Português: (a) Pico de difração de XRD medido na região do meio de uma nanosonda individual e plotado em escala logarítmica. As linhas tracejadas indicam as posições dos picos de XRD correspondentes a GaN não tensionado (210) e InGaN (210) e (211) com uma concentração média de In de x = 0,076. (b) Evolução dos parâmetros da rede wurtzita a e c ao longo do eixo z da nanosonda, partindo do meio da naosonda em direção ao seu topo.